Atomic Force Microscopy: Principles, Developments and Applications
€119,82€123,99-3%
Šiuo metu neturime sandėlyjePalikite savo el. pašto adresą ir pranešime, kai tik ji vėl bus prieinama, paprastai per 3-4 savaites.
14 dienų grąžinimo garantijaPersigalvojote? Užsakymą galite atšaukti bet kada, kol jis dar neišsiųstas. Grąžinimo politika
Knygos informacija
| Autorius | Bessie Moss |
|---|---|
| Leidėjas | Nova Science Publishers Inc |
| Išleista | 2018 m. |
| Kalba | Anglų |
| Puslapiai | 131 psl. |
| Formatas | Minkštas viršelis |
| ISBN | 9781536134957 |
Apie knygą
Atomic Force Microscopy: Principles, Developments and Applications by Bessie Moss.
Published by Bessie Moss, (2018), Paperback, 131 pages.