Pereiti prie produkto informacijos

Atomic Force Microscopy (AFM)

Hongshun, Ph.D. Yang

Įprasta kaina €236,43
Pardavimo kaina €236,43 Įprasta kaina €243,74 Išpardavimas

Turime sandėlyje

📦 Šios prekės gali nebūti sandėlyje.
Prieš perkant parašykite mums, kad patikslintume: info@bookshop.lt 💜

Leidimo metai 2014 m.
Puslapių skč. 351 psl.
Viršelis Kietas viršelis
ISBN 9781631171727

Atomic Force Microscopy (AFM)

Atomic Force Microscopy (AFM) by Hongshun, Ph.D. Yang.

Published by Nova Science Pub Inc, (2014), Hardback, 351 pages.

Topics: Scanning tunneling microscopy, Scanning probe microscopy, Scanning force microscopy, Atomic force microscopes.

Book cover of: Atomic Force Microscopy (AFM). By: Hongshun, Ph.D. Yang

Atomic Force Microscopy (AFM)

Įprasta kaina €236,43
Pardavimo kaina €236,43 Įprasta kaina €243,74