• Book cover of: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits. By: Sandeep K. Goel

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Sandeep K. Goel

€106,48
€106,48 €110,24 Išpardavimas

Turime sandėlyje

Prekės šiuo metu neturime
Palikite el. paštą ir pranešime iškart, kai prekė vėl atsiras sandėlyje.
Autorius Sandeep K. Goel
Kalba Anglų k.
Leidimo metai 2017 m.
Puslapių skč. 264 psl.
Viršelis Minkštas viršelis
ISBN 9781138075771
Kategorijos Nanotechnologija

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits by Krishnendu Chakrabarty, Sandeep K. Goel.

Published by Taylor & Francis Group, (2017), Paperback, 264 pages.

Topics: Metal oxide semiconductors, complementary, Nanotechnology, Complementary Metal oxide semiconductors.

Book cover of: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits. By: Sandeep K. Goel

Testing for Small-Delay Defects in Na...

€106,48
€106,48 €110,24