Ieškoti: 1000 rezultatai pagal užklausą „Materials, microscopy“ – Bookshop

🎁 Nemokamas pristatymas nuo 23 € 🎁

🚚 14 dienų grąžinimo garantija 🚚

Paieškos rezultatai

Microstructural Characterization of Materials

Išpardavimas

Microstructural Characterization of Materials

Pardavėjas:
David (Technion - Israel Institute of Technology) Brandon

Įprasta kaina €63,99

Pardavimo kaina €63,99 Įprasta kaina €66,44
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy Applied to Materials Sciences and Life Sciences

Išpardavimas

Microscopy Applied to Materials Sciences and Life Sciences

Pardavėjas:
Ajay V. Rane

Įprasta kaina €101,63

Pardavimo kaina €101,63 Įprasta kaina €105,24
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy Applied to Materials Sciences and Life Sciences

Išpardavimas

Microscopy Applied to Materials Sciences and Life Sciences

Pardavėjas:
Ajay Vasudeo Rane

Įprasta kaina €169,54

Pardavimo kaina €169,54 Įprasta kaina €175,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Super-Resolution Microscopy for Material Science

Išpardavimas

Super-Resolution Microscopy for Material Science

Pardavėjas:
Lorenzo Albertazzi

Įprasta kaina €146,50

Pardavimo kaina €146,50 Įprasta kaina €151,50
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope: Volume 589

Išpardavimas

Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope: Volume 589

Pardavėjas:
Jim Bentley

Įprasta kaina €33,74

Pardavimo kaina €33,74 Įprasta kaina €35,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science

Išpardavimas

High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science

Pardavėjas:
Daisuke Shindo

Įprasta kaina €55,55

Pardavimo kaina €55,55 Įprasta kaina €57,74
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Introduction to Conventional Transmission Electron Microscopy

Išpardavimas

Introduction to Conventional Transmission Electron Microscopy

Pardavėjas:
Marc De Graef

Įprasta kaina €135,59

Pardavimo kaina €135,59 Įprasta kaina €140,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy of Semiconducting Materials 2001

Išpardavimas

Microscopy of Semiconducting Materials 2001

Pardavėjas:
A. G. Cullis

Įprasta kaina €285,94

Pardavimo kaina €285,94 Įprasta kaina €295,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy of Semiconducting Materials 2003

Išpardavimas

Microscopy of Semiconducting Materials 2003

Pardavėjas:
Cullis

Įprasta kaina €285,94

Pardavimo kaina €285,94 Įprasta kaina €295,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Transmission Electron Microscopy

Išpardavimas

Transmission Electron Microscopy

Pardavėjas:
C. Barry Carter

Įprasta kaina €134,37

Pardavimo kaina €134,37 Įprasta kaina €138,99
Vieneto kaina per

Išpardavimas
$Book cover of: Topics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials$

Topics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials

Išpardavimas

Topics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials

Pardavėjas:
Peter. B (University Of Oxford, England, UK) Hirsch

Įprasta kaina €213,19

Pardavimo kaina €213,19 Įprasta kaina €220,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Multiphase Polymer- Based Materials

Išpardavimas

Multiphase Polymer- Based Materials

Pardavėjas:
Charef Harrats

Įprasta kaina €285,94

Pardavimo kaina €285,94 Įprasta kaina €295,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy of Semiconducting Materials

Išpardavimas

Microscopy of Semiconducting Materials

Pardavėjas:
A.G (University of Sheffield, UK) Cullis

Įprasta kaina €673,94

Pardavimo kaina €673,94 Įprasta kaina €695,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials

Išpardavimas

Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials

Pardavėjas:
PJ Goodhew

Įprasta kaina €31,30

Pardavimo kaina €31,30 Įprasta kaina €32,74
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Išpardavimas

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Pardavėjas:
Nigel D. (University of Illinois, Chicago) Browning

Įprasta kaina €164,69

Pardavimo kaina €164,69 Įprasta kaina €170,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987

Išpardavimas

Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987

Pardavėjas:
A.G. Cullis

Įprasta kaina €188,94

Pardavimo kaina €188,94 Įprasta kaina €195,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
In-situ Electron Microscopy At High Resolution

Išpardavimas

In-situ Electron Microscopy At High Resolution

Pardavėjas:
Florian (Univ De Strasbourg, France) Banhart

Įprasta kaina €150,14

Pardavimo kaina €150,14 Įprasta kaina €155,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
In-Situ and Operando Probing of Energy Materials at Multiscale Down to Single Atomic Column - The Power of X-Rays, Neutrons and Electron Microscopy: Volume 1262

Išpardavimas

In-Situ and Operando Probing of Energy Materials at Multiscale Down to Single Atomic Column - The Power of X-Rays, Neutrons and Electron Microscopy: Volume 1262

Pardavėjas:
Chongmin Wang

Įprasta kaina €33,74

Pardavimo kaina €33,74 Įprasta kaina €35,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Hybridizing Surface Probe Microscopies

Išpardavimas

Hybridizing Surface Probe Microscopies

Pardavėjas:
Susan Moreno-Flores

Įprasta kaina €207,12

Pardavimo kaina €207,12 Įprasta kaina €214,00
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Išpardavimas

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Pardavėjas:
Nigel D. (University of Illinois, Chicago) Browning

Įprasta kaina €54,35

Pardavimo kaina €54,35 Įprasta kaina €56,50
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Išpardavimas

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Pardavėjas:
Joseph Goldstein

Įprasta kaina €122,24

Pardavimo kaina €122,24 Įprasta kaina €126,49
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Miniaturized Testing of Engineering Materials

Išpardavimas

Miniaturized Testing of Engineering Materials

Pardavėjas:
V. Karthik

Įprasta kaina €170,75

Pardavimo kaina €170,75 Įprasta kaina €176,50
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Išpardavimas

Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Pardavėjas:
M.L Jenkins

Įprasta kaina €310,19

Pardavimo kaina €310,19 Įprasta kaina €320,25
Vieneto kaina per

Išpardavimas
Microscopy of Semiconducting Materials 1983, Third Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, St Catherines College, March 1983

Išpardavimas

Microscopy of Semiconducting Materials 1983, Third Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, St Catherines College, March 1983

Pardavėjas:
A.G. Cullis

Įprasta kaina €298,06

Pardavimo kaina €298,06 Įprasta kaina €307,75
Vieneto kaina per

Išpardavimas

Ieškoti